Большая Советская Энциклопедия (ОП) - БСЭ БСЭ

Рис. 1. Схема оптического стандарта частоты с гелий-неоновым лазером и поглощающей ячейкой: 1 — зеркала оптического резонатора; 2 — ячейка лазера с активным газом; 3 — ячейка с поглощающим газом; 4 — приёмник излучения; 5 — система обратной связи.

Рис. 4. Слияние двух провалов в один.

Рис. 3. «Выжигание провалов» в контуре спектральной линии.

Рис. 2. Структура спектральной линии газа в оптическом диапазоне: 1 — линии однородной ширины Г, излучаемые отдельными атомами и смещённые из-за эффекта Доплера; 2 — контур спектральной линии газа; 3 — резонансная кривая резонатора; n0 — собственная частота резонатора; n0 — частота, соответствующая вершине спектральной линии.

Оптический гироскоп

Опти'ческий гироско'п , см. в ст. Квантовый гироскоп .

Оптический измерительный прибор

Опти'ческий измери'тельный прибо'р в машиностроении, средство измерения, в котором визирование (совмещение границ контролируемого размера с визирной линией, перекрестием и т.п.) или определение размера осуществляется с помощью устройства с оптическим принципом действия. Различают три группы О. и. п.: приборы с оптическим способом визирования и механическим (или др., но не оптическим) способом отсчёта перемещения; приборы с оптическим способом визирования и отсчёта перемещения; приборы, имеющие механический контакт с измеряемым объектом, с оптическим способом определения перемещения точек контакта.

  Из приборов первой группы распространение получили проекторы для измерения и контроля деталей, имеющих сложный контур, небольшие размеры (например, шаблоны, детали часового механизма и т.п.). В машиностроении применяются проекторы с увеличением 10, 20, 50, 100 и 200, имеющие размер экрана от 350 до 800 мм по диаметру или по одной из сторон. Т. н. проекционные насадки устанавливают на микроскопах, металлообрабатывающих станках, различных приборах. Инструментальные микроскопы (рис. 1 ) наиболее часто используют для измерения параметров резьбы. Большие модели инструментальных микроскопов обычно снабжаются проекционным экраном или бинокулярной головкой для удобства визирования.

  Наиболее распространённый прибор второй группы — универсальный измерительный микроскоп УИМ, в котором измеряемая деталь перемещается на продольной каретке, а головной микроскоп — на поперечной. Визирование границ проверяемых поверхностей осуществляется с помощью головного микроскопа, контролируемый размер (величина перемещения детали) определяется по шкале обычно с помощью отсчётных микроскопов. В некоторых моделях УИМ применено проекционно-отсчётное устройство. К этой же группе приборов относится компаратор интерференционный .

  Приборы третьей группы применяют для сравнения измеряемых линейных величин с мерами или шкалами. Их объединяют обычно под общим назв. компараторы . К этой группе приборов относятся оптиметр , оптикатор , измерительная машина , контактный интерферометр, оптический длиномер и др. В контактном интерферометре (разработан впервые И. Т. Уверским в 1947 на заводе «Калибр» в Москве) используется интерферометр Майкельсона (см. в ст. Интерферометр ), подвижное зеркало которого жестко связано с измерительным стержнем. Перемещение стержня при измерении вызывает пропорциональное перемещение интерференционные полос, которое отсчитывается по шкале. Эти приборы (горизонтального и вертикального типа) наиболее часто применяют для относительных измерений длин концевых мер при их аттестации. В оптическом длиномере (длиномер Аббе) вместе с измерительным стержнем (рис. 2 ) перемещается отсчётная шкала. При измерении абсолютным методом размер, равный перемещению шкалы, определяется через окуляр или на проекционном устройстве с помощью нониуса.

  Перспективным направлением в разработке новых типов О. и. п. является оснащение их электронными отсчитывающими устройствами, позволяющими упростить отсчёт показаний и визирование, получать показания, усреднённые или обработанные по определённым зависимостям, и т.п.

  Лит.: Справочник по технике линейных измерений, пер. с нем., М., 1959; Оптические приборы для измерения линейных и угловых величин в машиностроении, М., 1964.

  Н. Н. Марков.

Рис. 1. Инструментальный микроскоп: 1 — головка со штриховой продольной сеткой; 2 — стойка; 3 — микропара; 4 — стол для установки детали.

Рис. 2. Оптический длиномер: 1 — проекционное устройство; 2 — измерительный стержень; 3 — измеряемая деталь.

Оптический институт

Опти'ческий институ'т им. С. И. Вавилова государственный (ГОИ), научно-исследовательское учреждение, в котором ведутся работы в области оптики и её технического применений. Основан в Ленинграде в 1918. Основателем, первым директором и научным руководителем ГОИ был академик Д. С. Рождественский; в 1932—45 научное руководство осуществлял академик С. И. Вавилов, в 1945—56 — академик А. Н. Теренин. В ГОИ начинали научную деятельность и работали многие известные учёные, среди них академик И. В. Гребенщиков, А. А. Лебедев, В. А. Фок, И. В. Обреимов; в настоящее время (1973) здесь работают академик В. П. Линник и члены-корреспонденты П. П. Феофилов и Ю. Н. Денисюк.

  ГОИ внёс большой вклад в развитие советской оптики. В нём выполнены ставшие классическими работы по спектроскопии атомов различных элементов и фундаментальные исследования процессов люминесценции, фотохимии и фотосинтеза, позволившие получить многие сведения о строении молекул, а также работы по спектроскопии активированных кристаллов.

  ГОИ — научно-исследовательская центр оптико-механической промышленности. В институте разработаны составы и технология производства оптических материалов и решены задачи механической обработки стекла и формообразования поверхностей оптических деталей высокой точности. Проведены важные исследования по оптотехнике, фотометрии и светотехнике: предложены и разработаны разнообразные интерференционные методы и приборы для прецизионных измерений в астрономии и технике, бесконтактные оптические приборы для контроля формы и микрогеометрии обрабатываемых поверхностей в машиностроении. Изобретена менисковая система для зеркально-линзовых объективов. Созданы оптические источники света большой яркости.

  В ГОИ впервые была объяснена природа скрытого фотографического изображения, предложена и исследована электрохимическая теория проявления, разработаны методы и приборы для испытания сенситометрических свойств фотографических материалов.

  В ГОИ впервые в СССР разработаны методы и созданы прецизионные машины для изготовления высококачественных дифракционных решёток, организовано их производство, построен первый советский электронный микроскоп и первый в мире геодезический светодальномер. В ГОИ впервые в СССР созданы методы регистрации изображения в трёхмерной среде. В институте основана советская школа вычислительной оптики.

  В. Д. Михалевский.

Оптический квантовый генератор

Опти'ческий ква'нтовый генера'тор , то же, что лазер .

Оптический контакт

Опти'ческий конта'кт поверхностей прозрачных тел имеет место при расстоянии между поверхностями порядка радиуса действия молекулярных сил (сближение на такое расстояние называется «посадкой» на О. к.). Если в О. к. приводятся тела с равными преломления показателями , то свет проходит границу их раздела (поверхность О. к.), не меняя своего направления; при этом отражения коэффициент поверхности О. к. чрезвычайно низок — от 10–4 до менее чем 10–7 . Как правило, на О. к. легко могут быть посажены чистые, хорошо полированные поверхности, которые затем уже нельзя разделить путём сдвига без их повреждения.

  О. к. часто называется также такое сближение поверхностей прозрачных тел, при котором коэффициент отражения от каждой поверхности становится функцией расстояния между поверхностями d и быстро убывает с уменьшением d . Особенно чётко это явление наблюдается при полном внутреннем отражении , когда в зависимости от d коэффициент отражения меняется от 1 до неощутимо малой величины. Этим пользуются для модуляции света по интенсивности и для грубого спектрального разделения длинноволновой и коротковолновой частей излучения.

Оптический отвес